位移探针冷热台

产品介绍：

位移探针台可以在测试准备和测试过程中准确移动探针位置，实现微米级别（10μ m ）的电极接触；同时探针前端可调整角度和长度，从而可适应更加广泛的样品尺寸范围。

用途：

1 . 用于光刻器件的高低温光电测试；

2 . 可用可于I V 、介电常数、霍尔效应、射频、低温电路等测试；

3 .可拓展低温温控和真空管路模块，实现液氦温度测量。

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